3360 VLSI測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-11-10

簡(jiǎn)要描述：

3360 VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色：
?50 MHz 測(cè)試頻率
?608 個(gè) I/O 通道
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購(gòu)） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu) （互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD）
?平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
?Real Parallel Trim/Match 功能

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3360 VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

50 MHz 測(cè)試頻率
608 個(gè) I/O 通道
8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體
彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
Real Parallel Trim/Match 功能
直接裝設(shè) SC312, TS670 針測(cè)卡
測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
SCAN test 選配 (512M)
ALPG test 選配供記憶體用
STDF 工具支援
人性化 Windows XP 操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
多樣化的測(cè)試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.

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